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c01cf91893 | ||
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7d9e84b6d7 | ||
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68e5a52825 | ||
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c9073f6ad1 | ||
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56787fe993 | ||
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e573892a5d | ||
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8526ff1d09 | ||
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e9ac01bf16 | ||
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29e4f49d8d |
@@ -0,0 +1,136 @@
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# 实验报告:PPMU2.0 DPS板卡挡位切换对电源影响
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## 基本信息
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| 项目 | 内容 |
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|--------------|-----------------------|
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| 实验日期 | `2026-03-06` |
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| 负责人 | `沈浴阳` |
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| 报告版本 | `V1.0` |
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| 板卡编号 | `JC124M060_A1` |
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## 一、实验背景
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在PPMU2.0板卡搭配64DPS的配置情况下,ATE软件连接板卡(Connect),外部校准等情况下,K7板卡上的LED灯(FPGA_DONE)会熄灭
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## 二、实验目的
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<!-- 清晰描述实验要验证的关键问题 -->
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1. 目标1:`确认K7灯灭原因(怀疑电源问题)`
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2. 目标2:`尝试修复/规避问题`
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## 三、实验环境
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- **硬件配置**
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- PPMU2.0 板卡一套:
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- PMU: JC124M014_A7
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- DPS: JC124M060_A1 * 2
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- MOLEX: JC124M038_A8
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- K7_w/_NOR: JC124M049_A1 * 2
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- **软件环境**
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`N/A`
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- **物理环境**
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`温度:25±2℃ | 湿度:45±5%RH`
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## 四、实验步骤
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### 1. 准备工作
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<!-- 分步骤描述准备过程 -->
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1) 步骤描述1:`准备示波器、软硬件环境`
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2) 步骤描述2:`板卡上电`
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### 2. 测试流程
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<!-- 按顺序记录关键操作 -->
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1. 板卡上电,等待所有子板上线&K7固件下载完成
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2. 连接板卡,执行DPS Force
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3. 观察是否灯灭
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4. 进一步缩小怀疑范围至DPS板卡上运放供电,隔离指令
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5. 单独发送运放供电切换指令
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6. 测量各供电状态
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## 五、实验结果
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### 关键数据记录
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| 测试点 | 预期值 | 实测值 | 单位 |
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|--------|--------|--------|------|
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| +15V_VIN(w/_64DPS) | 14.5~15.5 | 12.310 | V |
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| +15V_VIN(w/_32DPS) | 14.5~15.5 | 13.606 | V |
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| S1_PP5V_EN | >1.17| 1.0442 | V |
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| S1_FPGA_1V0(w/_64DPS) | 1.0 | 0.4 | V |
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### 波形/现象记录
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**图1:K7板 5V Enable信号受影响**
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**图2:DPS运放电源切换瞬间VIN15V波形**
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**图3:64DPS运放电源9V->13V波形与VIN15V波形**
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**图4:64DPS运放电源13V->9V波形与VIN15V波形**
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**图5:32DPS运放电源9V->13V波形与VIN15V波形**
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**图6:32DPS运放电源13V->9V波形与VIN15V波形**
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**图7:64DPS VIN15V波形与运放电源导致运放电源进入硬保护**
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**图8/9:64DPS 运放电源芯片进入过流保护**
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## 六、问题分析
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<!-- 使用故障树等结构化方法 -->
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```{mermaid}
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graph TD
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A[K7重启] --> B[K7核压过低]
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B --> C[前级电源输出异常]
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C --> D[K7 5V电源芯片EN脚电压过低]
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D --> E[EN通过VIN电阻分压得出]
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E --> F[VIN跌落]
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F --> G[DPS运放供电切换导致]
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```
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```{mermaid}
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graph TD
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A[DPS运放供电切换导致] --> B[使用ADG1434进行反馈电阻切换]
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B --> C[反馈电阻切换存在空白时间,此时反馈网络开路]
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C --> D[电源芯片TPS54821识别内部MOS管存在过流]
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D --> E[电源芯片进入过流保护]
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C --> F[+15V_VIN因瞬时大电流跌落]
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E -"若在~1.3ms内故障未缓解"-> G[TPS54821关闭~37ms后重启]
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```
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## 七、结论与建议
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✅ **实验结论**
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1. `TPS54821` 不可使用当前切换反馈电阻的方式切换输出电压,根据现象可反推出存在瞬时大电流`
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2. 此瞬时大电流会拉低板卡上主要的供电:`+15V`
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1. 在`32DPS`的配置下,`+15V`会被拉低至`~13V`
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2. 在`64DPS`的配置下,`+15V`会被拉低至`~12V`
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3. K7的二级电源`+5V`的`EN`通过分压电阻分压`VIN`,由于配比问题,EN的VIN阈值约为`13V`,低于此值K7次级电源会掉电
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||||
4. `TPS54821`在`64DPS`配置下,切换输出电压时,存在长时间处于`Overcurrent`的可能性,此时芯片将进入`~37ms(16384 cycles)`的关断状态,之后重启,此时输出电压将缓慢滑落,直到重启
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⚠️ **改进建议**
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- 建议1:修改`ARM固件`,避免64DPS**同时**切换运放供电
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- 建议2:修改`K7 BOM`,更换EN分压电阻,允许更多的VIN跌落
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- 建议3:修改`DPS裸板`,调整修改电源输出电压的方式
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@@ -101,7 +101,7 @@
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<!-- 使用故障树等结构化方法 -->
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```mermaid
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```{mermaid}
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flowchart TB
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A["Trim输出较高电压(2.5V/2.9V)"] -- 测试完成后 --> B["继电器断开"]
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B --> C["电容浮空,残留之前电压"]
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@@ -0,0 +1,103 @@
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# RMA报告:APT32 Trim问题分析
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## 基本信息
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| 项目 | 内容 |
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|--------------|-----------------------|
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| 实验日期 | `2026-07-24` |
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| 负责人 | `沈浴阳` |
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| 客户名称 | `APT` |
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| 待测芯片 | `APT32F0313` |
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| 测试类型 | `CP/FT` |
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| 报告版本 | `V1.0` |
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| 板卡编号 | `` |
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## 一、问题背景
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工厂反应PPMU2.0板卡对APT32F0313进行CP测试时,出现Vnege_Trim测试项Fail的情况,且该异常跟随板卡迁移
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具体表现为:
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- Trim Code写入后,发送Measure指令从Tp管脚量得得电压与期望值不符,导致Code中二分法得出错误结果进而使得测试项出现Fail
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- 进一步细究后发现,通过执行一次Trim Code写入,写入固定Code后重复发送Measure指令并进行测量,可得到异常结果,并与前述异常结果相符,故可以得出该问题实际出现在Measure指令到Tp管脚测量中
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## 二、实验目的
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<!-- 清晰描述实验要验证的关键问题 -->
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1. 目标1:`复现工厂现象`
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2. 目标2:`分析异常并寻找原因`
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3. 目标3:`尝试改进`
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## 三、实验环境
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- **硬件配置**
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- 工厂寄回PPMU2.0板卡两套
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- IP分别为14与17
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- 其中 ***14*** 板卡为正常板卡,***17***板卡为异常板卡
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- 工程机(PC)
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- **软件环境**
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SOC软件: v1.4.0-1070
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## 四、实验步骤
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### 1. 准备工作
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<!-- 分步骤描述准备过程 -->
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1) 本次实验受限于实验室机台,使用1K+PIB形式进行验证
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2) 收到从工厂发来的 ***盲binding*** FT颗粒若干 (*需注意现场为CP测试*),购买QFN32 Socket并通过飞线至PIB的形式连接至板卡通道
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3) 使用与工厂相同的软固件版本以保持一致
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4) 从辛明翰处获得现场使用工程文件
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### 2. 复现流程
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<!-- 按顺序记录关键操作 -->
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1. 直接运行工厂项目文件,发现
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## 五、实验结果
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### 关键数据记录
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| 测试点 | 预期值 | 实测值 | 偏差 | 单位 |
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|--------|--------|--------|------|------|
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| Vout | 3.3 | 3.28 | -0.6% | V |
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| I_max | 2.0 | 2.15 | +7.5% | A |
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### 波形/现象记录
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**图1:上电冲击电流波形**
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*注释:观测到XX μs的浪涌电流*
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**图2:高温测试红外热像**
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*注释:芯片最高温度达XX℃(环境XX℃)*
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## 六、问题分析
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<!-- 使用故障树等结构化方法 -->
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```mermaid
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graph TD
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A[异常现象] --> B[电源模块]
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A --> C[信号干扰]
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B --> D{排查方向1}
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C --> E{排查方向2}
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```
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## 七、结论与建议
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✅ **实验结论**
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1. `<验证通过/未通过的指标>`
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2. `<关键发现>`
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⚠️ **解决建议**
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- [ ] 建议1:`<硬件优化方案>`
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- [ ] 建议2:`<测试方法改进>`
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## 附件
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1. [原始数据文件](./data/rawdata_20230501.csv)
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2. [电路原理图](./schematics/v2.0_final.pdf)
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||||
3. [测试视频](./videos/test_recording.mp4)
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After Width: | Height: | Size: 366 KiB |
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After Width: | Height: | Size: 166 KiB |
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After Width: | Height: | Size: 144 KiB |
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After Width: | Height: | Size: 172 KiB |
|
After Width: | Height: | Size: 256 KiB |
|
After Width: | Height: | Size: 394 KiB |
|
After Width: | Height: | Size: 273 KiB |
|
After Width: | Height: | Size: 289 KiB |
|
After Width: | Height: | Size: 259 KiB |
|
After Width: | Height: | Size: 319 KiB |
|
After Width: | Height: | Size: 296 KiB |
|
After Width: | Height: | Size: 292 KiB |
|
After Width: | Height: | Size: 296 KiB |
|
After Width: | Height: | Size: 292 KiB |
@@ -45,7 +45,7 @@
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### 2. 复现流程
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<!-- 按顺序记录关键操作 -->
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```mermaid
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```{mermaid}
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graph LR
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A[启动设备] --> B{监测初始状态}
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B -->|正常| C[执行测试用例1]
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