This commit is contained in:
@@ -0,0 +1,11 @@
|
||||
# DC部分
|
||||
## 测试内容
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 测试电路
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 测试方法
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 测试结果判断
|
||||
@@ -0,0 +1,11 @@
|
||||
# K7部分
|
||||
## 测试内容
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 测试电路
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 测试方法
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 测试结果判断
|
||||
@@ -0,0 +1,11 @@
|
||||
# UT部分
|
||||
## 测试内容
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 测试电路
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 测试方法
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 测试结果判断
|
||||
@@ -0,0 +1,10 @@
|
||||
############################################################
|
||||
外部校准
|
||||
############################################################
|
||||
|
||||
.. toctree::
|
||||
:maxdepth: 1
|
||||
:caption: Contents:
|
||||
:glob:
|
||||
|
||||
*
|
||||
@@ -0,0 +1,10 @@
|
||||
############################################################
|
||||
仪表校准
|
||||
############################################################
|
||||
|
||||
.. toctree::
|
||||
:maxdepth: 1
|
||||
:caption: Contents:
|
||||
:glob:
|
||||
|
||||
*
|
||||
@@ -0,0 +1,10 @@
|
||||
############################################################
|
||||
环回/自动化测试
|
||||
############################################################
|
||||
|
||||
.. toctree::
|
||||
:maxdepth: 1
|
||||
:caption: Contents:
|
||||
:glob:
|
||||
|
||||
*
|
||||
@@ -0,0 +1,10 @@
|
||||
############################################################
|
||||
自校准
|
||||
############################################################
|
||||
|
||||
.. toctree::
|
||||
:maxdepth: 1
|
||||
:caption: Contents:
|
||||
:glob:
|
||||
|
||||
*
|
||||
@@ -0,0 +1,13 @@
|
||||
############################################################
|
||||
校准验证/自动化验证
|
||||
############################################################
|
||||
|
||||
.. toctree::
|
||||
:maxdepth: 1
|
||||
:caption: Contents:
|
||||
:glob:
|
||||
|
||||
SelfCal/index
|
||||
ExtCal/index
|
||||
ExtInstrCal/index
|
||||
Loop_Auto/index
|
||||
@@ -0,0 +1,10 @@
|
||||
##############################
|
||||
Checklist
|
||||
##############################
|
||||
|
||||
.. toctree::
|
||||
:maxdepth: 1
|
||||
:caption: Contents:
|
||||
:glob:
|
||||
|
||||
*
|
||||
@@ -0,0 +1,5 @@
|
||||
# 负载验证
|
||||
|
||||
## 容性负载
|
||||
|
||||
## 极限负载
|
||||
@@ -0,0 +1,143 @@
|
||||
|
||||
# 实验报告:DPS内部挡位无法输出>10V电压
|
||||
|
||||
## 基本信息
|
||||
| 项目 | 内容 |
|
||||
|--------------|-----------------------|
|
||||
| 实验日期 | `2025-08-05` |
|
||||
| 操作人 | `沈浴阳、庞博` |
|
||||
| 报告版本 | `V1.0` |
|
||||
| 板卡编号 | `JC124M060_A2` |
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 一、实验背景
|
||||
- 对于DPS,在5uA, 20uA, 200uA, 2mA, 60mA下,若需要输出>9V电压,需将DPS板卡上运放供电从\~9V抬升至\~14V
|
||||
- 据推测,这一限制是由于运放与光耦电路对电压输出造成了影响
|
||||
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 二、实验目的
|
||||
<!-- 清晰描述实验要验证的关键问题 -->
|
||||
1. 目标1:验证运放与光耦对电压输出造成限制
|
||||
2. 目标2:尝试修改光耦与运放部分电路解决这一限制
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 三、实验环境
|
||||
- **硬件配置**
|
||||
- PPMU2.0 板卡一套:
|
||||
- PMU: JC124M014_A7
|
||||
- DPS: JC124M060_A1 * 2
|
||||
- MOLEX: JC124M038_A8
|
||||
- K7_w/_NOR: JC124M049_A1 * 2
|
||||
- **软件环境**
|
||||
- v1.4.0.1154-7817866b4-debug
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 四、实验步骤
|
||||
### 1. 准备工作
|
||||
<!-- 分步骤描述准备过程 -->
|
||||
1) 组装板卡
|
||||
2) 板卡上电并连接电脑
|
||||
3) 准备示波器、万用表
|
||||
|
||||
### 2. 测试流程
|
||||
<!-- 按顺序记录关键操作 -->
|
||||
1. 使用DPS通道1、3进行测试,其余通道作为对比组不做修改:
|
||||
1. 1、3通道移除1A档所用光耦
|
||||
2. 对DPS进行初始化(获取初始值,Offset=8000)
|
||||
3. 在FVMV模式下,分别在5uA,20uA,200uA,2mA档下,全通道Force 13V
|
||||
4. 获取全通道DPS Measure读数
|
||||
2. 修改1通道光耦电路,
|
||||
1. 将并联输入,公共脚输出修改为单输入,单输出,公共脚悬空
|
||||
2. 重复第2步中的ii~iv
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 五、实验结果
|
||||
### 关键数据记录
|
||||
|
||||
步骤2:
|
||||
|
||||
| 挡位 | 测试组 | 对照组(1&3) | 偏差值
|
||||
|--------|--------|------|------|
|
||||
| 5uA | 9.388 | 13.000 |-3.612|
|
||||
| 20uA | 9.470 | 12.999 |-3.529|
|
||||
| 200uA | 9.714 | 13.001 |-3.287|
|
||||
| 2mA | 11.787 | 13.000 | -1.213 |
|
||||
|
||||
步骤3:
|
||||
| 挡位 | 测试组(1) | 对照组(3) | 对照组(11) |
|
||||
|--------|--------|------|------|
|
||||
| 5uA | 12.991 | 13.000 | 9.388 |
|
||||
| 20uA | 12.992 | 12.999 | 9.470 |
|
||||
| 200uA | 12.992 | 13.001 | 9.714 |
|
||||
| 2mA | 12.992 | 13.000 | 11.787|
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 六、问题分析
|
||||
<!-- 使用故障树等结构化方法 -->
|
||||
```{mermaid}
|
||||
flowchart TD
|
||||
n1["光耦"] --> n2["Pin5->Pin4存在二极管"]
|
||||
n3["DPS小档位无法输出大电压"] --> n1 & n4["运放"]
|
||||
n4 --> n6["In+/In-电压范围为Vdd~Vss,超出范围则会被内部二极管钳位"] & n12["Vout不超过Vdd"]
|
||||
n6 --> n7@{ label: "<span style=\"background-color:\">In+通过1K电阻连至光耦1@Pin4</span>" }
|
||||
n7 --> n8@{ label: "Force/MeasH->IN+<br style=\"--tw-scale-x:\">Pin5->Pin4" }
|
||||
n10["Vout+串联肖特基二极管至光耦2@Pin4"] --> n9@{ label: "Force/MeasH->Vout<br style=\"--tw-scale-x:\">Pin5->Pin4" }
|
||||
n2 --> n11@{ label: "<span style=\"background-color:\">如果Pin5电压>Pin4电压</span>" }
|
||||
n11 --> n5["二极管导通,存在电流通路"]
|
||||
n12 --> n10
|
||||
n8 --> n13["小档位Force 13V"]
|
||||
n9 --> n13
|
||||
n13 --> n14@{ label: "Force=13<br style=\"--tw-scale-x:\">Vout=9.6V" } & n15@{ label: "Force=13<br style=\"--tw-scale-x:\">IN+ = 9V<br>" }
|
||||
n15 --> n11
|
||||
n14 --> n11
|
||||
n5 --> n18["ForceV ClampI"]
|
||||
n18 --> n20["电流通过1K电阻"] & n21["肖特基二极管反向导通"]
|
||||
n20 -- "<span style=background-color:>5uA/20uA/200uA Clamp</span>" --> n24["Force电压小于期望值"]
|
||||
n21 -- "<span style=background-color: rgb(255, 255, 255);>2mA Clamp</span>" --> n24
|
||||
n1@{ shape: rounded}
|
||||
n3@{ shape: rounded}
|
||||
n4@{ shape: rounded}
|
||||
n6@{ shape: rect}
|
||||
n12@{ shape: rect}
|
||||
n7@{ shape: rect}
|
||||
n8@{ shape: rect}
|
||||
n10@{ shape: rect}
|
||||
n9@{ shape: rect}
|
||||
n11@{ shape: diam}
|
||||
n5@{ shape: rounded}
|
||||
n13@{ shape: rounded}
|
||||
n14@{ shape: rect}
|
||||
n15@{ shape: rect}
|
||||
n20@{ shape: rounded}
|
||||
n21@{ shape: rounded}
|
||||
```
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 七、结论与建议
|
||||
✅ **实验结论**
|
||||
1. 光耦中存在二极管,当正向存在压降时,二极管导通,运放输入端电阻上出现压降,存在电流
|
||||
2. 运放Vout后连接一肖特基二极管,其反向漏电流达到~100uA级别,存在漏电流
|
||||
3. 当Force电压时Clamp电流,当Force,ExtForce,MeasureH,ExtMeasure间存在通路时,可能触发ClampI,导致观察到输出电压小于期望电压
|
||||
|
||||
⚠️ **改进建议**
|
||||
- [ ] 建议1:修改光耦输入输出端连接方式 (需注意此接法时光耦负载能力)
|
||||
- [ ] 建议2:加大运放输入端电阻阻值
|
||||
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 附件
|
||||
1. 电路原理图
|
||||

|
||||
1. 运放输入电阻
|
||||

|
||||
1. 光耦连接方式(建议方案A)
|
||||
")
|
||||
1. 光耦负载能力
|
||||

|
||||
@@ -0,0 +1,10 @@
|
||||
##############################
|
||||
PPMU2.0 Lab Reports
|
||||
##############################
|
||||
|
||||
.. toctree::
|
||||
:maxdepth: 1
|
||||
:caption: Contents:
|
||||
:glob:
|
||||
|
||||
*
|
||||
@@ -0,0 +1,122 @@
|
||||
|
||||
# 实验报告:PPMU2.0 ARM12V EN(AVSS PG)修改
|
||||
|
||||
## 基本信息
|
||||
| 项目 | 内容 |
|
||||
|--------------|-----------------------|
|
||||
| 实验日期 | `2025-08-18` |
|
||||
| 负责人 | `沈浴阳` |
|
||||
| 报告版本 | `V1.0` |
|
||||
| 板卡编号 | `SC525M003` |
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 一、实验背景
|
||||
目前版本的PPMU2.0板卡(JC124M014_A7)采用了阶梯上电的方式,作为其中的一部分,ARM(Zynq XC7Z100)的供电芯片之使能管脚使用前级电源PG,而前级电源EN使用负电源DC-DC中的一路的PG信号作为输入;
|
||||
|
||||
而在板卡输出负电压,大电流时,可能使该DC-DC**过载**,导致PG管脚被芯片拉低,从而导致ARM供电使能被***拉低***一段时间(直至负电源恢复),ARM随之重启,进而导致整板重启
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 二、实验目的
|
||||
<!-- 清晰描述实验要验证的关键问题 -->
|
||||
1. 目标1:`验证负电源PG导致ARM输出掉电`
|
||||
2. 目标2:`修改底板线路连接`
|
||||
3. 目标3:`验证修改后输出负电压大电流时板卡不重启`
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 三、实验环境
|
||||
- **硬件配置**
|
||||
- PPMU2.0 板卡一套:
|
||||
- PMU: JC124M014_A7
|
||||
- DPS: JC124M060_A1 * 2
|
||||
- MOLEX: JC124M038_A7
|
||||
- K7_w/_NOR: JC124M049_A1 * 2
|
||||
- 外部校准板: JC124M037_A0
|
||||
- 面板:JC124M013
|
||||
- **软件环境**
|
||||
- v1.4.0.1154-7817866b4-debug
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 四、实验步骤
|
||||
### 1. 准备工作
|
||||
<!-- 分步骤描述准备过程 -->
|
||||
1) 组装板卡
|
||||
2) 板卡上电并连接电脑
|
||||
3) 准备示波器、万用表
|
||||
|
||||
### 2. 测试流程
|
||||
<!-- 按顺序记录关键操作 -->
|
||||
1. 验证负电源PG导致ARM输出掉电:
|
||||
|
||||
1. 外部校准版切换至PMU通道,负载10Ω
|
||||
2. 上位机软件设置全通道输出,调整输出电压,从较为保守的值开始(此处设置为-100mV,即-10mA)
|
||||
3. 逐渐增加输出电流(即增加输出电压) 注:绝对值
|
||||
4. 观察是否掉电,若不掉电,重复上述步骤
|
||||
|
||||
2. 修改PMU底板电路:
|
||||
1. 参考layout后选择割开ARM12V DC-DC芯片(LMR51450)的EN管脚走线
|
||||
2. 从该芯片附近选择一Ref输出(5V)作为EN脚输出,进行飞线至管脚
|
||||
3. 验证修改后输出负电压大电流时板卡不重启:
|
||||
4. 重复第1部分实验,直接使用掉电时电压
|
||||
5. 确认此时板卡不再重启
|
||||
6. *(可选)* 输出正电流时,板卡是否重启
|
||||
7. *(可选)* 检查Log,确认AD5522读数,判断其状态是否仍正常
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 五、实验结果
|
||||
### 关键数据记录
|
||||
|
||||
||输出电流|板卡状态|AD5522状态|
|
||||
|---|---|---|---|
|
||||
|修改前|-7mA|正常|正常|
|
||||
|修改前|-10mA|掉电重启|N/A|
|
||||
|修改后|-10mA|正常|正常|
|
||||
|修改后|-12mA|正常|正常|
|
||||
|修改后|-14mA|正常|异常|
|
||||
|
||||
|
||||
### 波形/现象记录
|
||||
**图1:输出负电流时掉电波形**
|
||||

|
||||
*注:负电源输出跌落:-18V->-9.34V*
|
||||
|
||||
**图2:修改后输出大电流时AVSS DCDC波形**
|
||||

|
||||
*注:此时板卡不掉电*
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 六、问题分析
|
||||
<!-- 使用故障树等结构化方法 -->
|
||||
```{mermaid}
|
||||
flowchart TD
|
||||
n1["PMU输出较大负电流"] --> n2["负电源过载"]
|
||||
n2 --> n3["负电源将其PG引脚拉低"]
|
||||
n3 -- XOUA1 EN管脚使用该PG信号 --> n4["XOUA1被禁用,其PG被拉低"]
|
||||
n4 -- PG_1XO5V作为ARM12V EN信号 --> n5["ARM12V被禁用,ARM掉电"]
|
||||
n5 --> n6["K7与ARM强相关,K7被重置"]
|
||||
n1@{ shape: rounded}
|
||||
|
||||
```
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 七、结论与建议
|
||||
✅ **实验结论**
|
||||
1. `修改EN/PG走线后板卡在输出大电流(正负)时不重启`
|
||||
2. `输出大电流时DCDC、LDO均过载,需小心使用`
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 附件
|
||||
1. [临界数据](../../_static/data/Edge_FlowLog_Raw_2025_08_15_14_14_45.777.txt)
|
||||
2. [过载数据](../../_static/data/Critial_FlowLog_Raw_2025_08_15_14_14_55.009.txt)
|
||||
3. 现有PG/EN连接
|
||||

|
||||

|
||||
4. 修改后电路
|
||||
|
||||

|
||||

|
||||
|
||||
|
||||
@@ -0,0 +1,78 @@
|
||||
|
||||
# 实验报告:降低板卡输入电压
|
||||
|
||||
## 基本信息
|
||||
| 项目 | 内容 |
|
||||
|--------------|-----------------------|
|
||||
| 实验日期 | `2025-08-18` |
|
||||
| 负责人 | `沈浴阳` |
|
||||
| 报告版本 | `V1.0` |
|
||||
| 板卡编号 | `SC525M003` |
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 一、实验背景
|
||||
目前PPMU2.0板卡(PMU&DPS)上AD5522的正电源AVDD均为外部电源输入后通过LDO进行降压转换出18V,基于目前供电情况,存在较大压降(24V->18V=6V),对LDO存在较大压力且损耗较大
|
||||
故需尝试是否可以在目前硬件环境下降低输入电压,以减少损耗、保护LDO
|
||||
|
||||
---
|
||||
## 二、实验目的
|
||||
<!-- 清晰描述实验要验证的关键问题 -->
|
||||
1. 目标1:`测试现用明纬电源(RSP-3000-24)最低输出电压`
|
||||
2. 目标2:`测试在现用明纬电源最低输出电压下板卡是否正常工作`
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 三、实验环境
|
||||
- **硬件配置**
|
||||
- PPMU2.0 板卡一套:
|
||||
- PMU: JC124M014_A7
|
||||
- DPS: JC124M060_A1 * 2
|
||||
- MOLEX: JC124M038_A7
|
||||
- K7_w/_NOR: JC124M049_A1 * 2
|
||||
- 外部校准板: JC124M037_A0
|
||||
- 面板:JC124M013
|
||||
- **软件环境**
|
||||
- v1.4.0.1154-7817866b4-debug
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 四、实验步骤
|
||||
### 1. 准备工作
|
||||
<!-- 分步骤描述准备过程 -->
|
||||
1) 步骤描述1:`调整明纬电源输出调整旋钮至最低位`
|
||||
2) 步骤描述2:`测量电源输出电压,电压>18V时可以尝试连接板卡`
|
||||
3) 步骤描述3:`通过面板连接板卡及外部校准板`
|
||||
4) 步骤描述4:`测试PMU、DPS是否正常工作及输出能力`
|
||||
|
||||
### 2. 测试流程
|
||||
<!-- 按顺序记录关键操作 -->
|
||||
```{mermaid}
|
||||
flowchart TD
|
||||
A(["调整明纬电源输出"]) --> B{">18V?"}
|
||||
B -- YES --> C["板卡连接外部校准版并上电"]
|
||||
C --> D["测试板卡功能是否正常"]
|
||||
B -- NO --> A
|
||||
C@{ shape: rect}
|
||||
```
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 五、实验结果
|
||||
### 关键数据记录
|
||||
| 测试点 |期望值| 实测值 | 单位 |
|
||||
|--------|---|---|---|
|
||||
| 明纬电源输出 | <24V & >18V | 20.55 | V |
|
||||
|
||||
### 波形/现象记录
|
||||
**图1:上电冲击电流波形**
|
||||

|
||||
*注释:明纬电源最低输出电压*
|
||||
|
||||
|
||||
|
||||
|
||||
---
|
||||
|
||||
## 附件
|
||||
1. AVDD电路部分
|
||||

|
||||
2. [原始测试数据](../../_static/data/FlowLog_Raw_2025_08_15_13_58_53.205.txt)
|
||||
@@ -0,0 +1,10 @@
|
||||
##############################
|
||||
电源验证
|
||||
##############################
|
||||
|
||||
.. toctree::
|
||||
:maxdepth: 1
|
||||
:caption: Contents:
|
||||
:glob:
|
||||
|
||||
*
|
||||
@@ -0,0 +1,14 @@
|
||||
##############################
|
||||
Hardware Verification
|
||||
##############################
|
||||
|
||||
.. toctree::
|
||||
:maxdepth: 2
|
||||
:caption: Contents:
|
||||
:glob:
|
||||
|
||||
Checklist/index
|
||||
Pwr_Verify/index
|
||||
Load_Verify/index
|
||||
Cal/index
|
||||
PPMU2.0/index
|
||||
Reference in New Issue
Block a user