
# RMA报告：APT32 Trim问题分析

## 基本信息
| 项目         | 内容                  |
|--------------|-----------------------|
| 实验日期     | `2026-07-24`          |
| 负责人       | `沈浴阳`              |
| 客户名称     | `APT`                  |
| 待测芯片     | `APT32F0313`                    |
| 测试类型     | `CP/FT`                |
| 报告版本     | `DRAFT_V0.1`                |
| 板卡编号     | ``              |

---
## 一、问题背景

工厂反应PPMU2.0板卡对APT32F0313进行CP测试时，出现Vnege_Trim测试项Fail的情况，且该异常跟随板卡迁移
具体表现为：
- Trim Code写入后，发送Measure指令从Tp管脚量得得电压与期望值不符，导致Code中二分法得出错误结果进而使得测试项出现Fail
- 检查输出电压后发现该电压为Trim Code = 31时所对应的输出电压
- 进一步细究后发现，通过执行一次Trim Code写入，写入固定Code后重复发送Measure指令并进行测量，可得到异常结果，并与前述异常结果相符，故可以得出该问题实际出现在Measure指令到Tp管脚测量中

---

## 二、实验目的
<!-- 清晰描述实验要验证的关键问题 -->
1. 目标1：`复现工厂现象`
2. 目标2：`分析异常并寻找原因`
3. 目标3：`尝试改进`

---

## 三、实验环境
- **硬件配置**  
  - 工厂寄回PPMU2.0板卡两套
    - IP分别为14与17
    - 其中 ***14*** 板卡为正常板卡，***17***板卡为异常板卡
  - 工程机(PC)
- **软件环境**  
  SOC软件: v1.4.0-1070


---

## 四、实验步骤
### 1. 准备工作
<!-- 分步骤描述准备过程 -->
1) 本次实验受限于实验室机台，使用1K+PIB形式进行验证
2) 收到从工厂发来的 ***盲binding*** FT颗粒若干 (*需注意现场为CP测试*)，购买QFN32 Socket并通过飞线至PIB的形式连接至板卡通道
3) 使用与工厂相同的软固件版本以保持一致
4) 从辛明翰处获得现场使用工程文件

### 2. 复现流程
<!-- 按顺序记录关键操作 -->
1. 直接运行工厂项目文件，在排除Socket干扰后发现两张板卡都出现Fail现象
2. 使用万用表测量出现异常时Tp管脚电压，与PPMU返回电压值一致，故可排除DC测量问题
3. 更改DCLevel中的VOH电平至2.5V以下，则会出现14Pass, 17Fail的差异情况
4. 测试项Fail为偶发现象，需要通过Loop/多次执行Trim Measure指令并测量Tp管脚才可复现Fail现象
5. 两张板卡互换K7,发现板卡差异与K7相关
6. 更换K7相关器件，发现板卡差异与器件
7. 逐个交换器件，发现板卡差异与高压Level Shifter有关，且可能与Tck通道相关
---

## 五、实验结果

### 波形/现象记录
**图1：Fail时波形**  
![](../../_images/RMA/APT_Trim/Fail.jpg)  


**图2：Pass/Fail波形对比**  
![](../../_images/RMA/APT_Trim/Compare.jpg)  

*对比可得两板卡Tck/Tdio几乎完全重合，Tstr有差异但需进一步分析*

**图3：Pattern为X时波形**  
![](../../_images/RMA/APT_Trim/Write+2.jpg)  
 
![](../../_images/RMA/APT_Trim/Write_X.jpg)  

**图4：14板卡高压Level Shifter丝印**  
![](../../_images/RMA/APT_Trim/TAR.png)  
*丝印为TAR*

**图5：17板卡高压Level Shifter丝印**  
![](../../_images/RMA/APT_Trim/TAF.png)  
*丝印为TAF*




---

## 六、发现归纳
1. 17板卡上高压Level Shifter与14板卡上高压Level Shifter存在差异，通过交换物料已经证明，可能与批次等有关，目前确认14板卡上其丝印皆为TAR,而17板卡上皆为TAF
2. 目前除上述发现与差异外，未发现两板卡其他差异，对于当前FT的颗粒该测试项(Vnege_Trim)仍会出现Fail情况
3. VOH影响测试结果问题仍未厘清
4. VIH影响测试结果问题仍未厘清(可能与3有关？)
5. Pattern为X时波形存在毛刺，但目前认为不影响实验结果

---

## 附件
1. [Fail波形文件](../../_static/data/RMA/PPMU2.0/APT_Trim/Fail_ALL.csv)
2. [Pass波形文件](../../_static/data/RMA/PPMU2.0/APT_Trim/Pass_ALL.csv)
